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本发明涉及电路板老化测试技术领域，具体公开了一种新型老化试验柜及其工作方法。用于对主板进行老化测试，其中新型老化试验柜，包括在侧部具有开关门的柜体，所述柜体内设置有多层垂直分布的支撑隔层，其中最下层支撑隔层放置有电脑主机、可调电源、线路板和...
该专利属于陕西拓普索尔电子科技有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过陕西拓普索尔电子科技有限责任公司授权不得商用。

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