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总线的验证方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸
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文档序号:36816487
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本申请提出一种总线的验证方法、装置、电子设备和存储介质,其中,方法包括:确定目标芯片待验证的目标层级,并获取目标芯片待验证的目标功能对应的候选数据包,其中,目标层级中存在至少一个第一模拟数据端口和至少一个第二模拟数据端口,第一模拟数据端口和...
该专利属于北京爱芯科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过北京爱芯科技有限公司授权不得商用。
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