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本发明涉及一种基于机器学习的光谱测量质量判定方法，包括：对光谱的特征数据进行降维处理得到降维后光谱特征数据；生成包含多个降维后光谱特征数据的训练集，对训练集中的各个数据点进行聚类模型训练，得到聚类模型及其包含的各个聚类的中心点；对待测光谱的...
该专利属于武汉颐光科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉颐光科技有限公司授权不得商用。

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