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本申请提供了一种差错检测方法及装置，属于量子计算技术领域。本申请通过在测量稳定子生成元的量子电路中，将稳定子生成元分为两种类型—X型和Z型分别检测差错，并添加flag粒子来检测量子电路中由于量子门引入的X差错和Z差错，仅使用四个辅助粒子实现...
该专利属于华为技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过华为技术有限公司授权不得商用。

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