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本公开涉及一种触摸轨迹优化方法及装置、芯片、设备、介质，触摸轨迹优化方法包括通过采样确定对触摸屏进行触摸的第一位置信息，第一位置信息包括时序依次递增的多个原始坐标；根据第一位置信息确定第二位置信息，第二位置信息包括至少一个生成坐标，根据任意...
该专利属于北京集创北方科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京集创北方科技股份有限公司授权不得商用。

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