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本发明公开一种介观尺度下微缺陷高分辨率成像检测方法及装置，其检测方法包括：在被检测试件的表面布置多条超声检测路径，在被检测试样中激励与接收特定频率下的超声导波，分析各条超声检测路径下接收信号频域中二次谐波，根据二次谐波的幅值构建信号差异系数...
该专利属于厦门大学所有，仅供学习研究参考，未经过厦门大学授权不得商用。

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