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本实用新型涉及一种集成电路的自动测试装置，包括一侧开口设置的壳体和位于所述壳体上半部的检测部，所述壳体内底壁开设有两个第一槽，所述第一槽内过盈配合有第一活塞，所述第一活塞与所述检测部相连接，所述壳体底壁内开设有两个放置腔，所述放置腔内过盈配...该专利属于中国软件评测中心（工业和信息化部软件与集成电路促进中心）所有，仅供学习研究参考，未经过中国软件评测中心（工业和信息化部软件与集成电路促进中心）授权不得商用。