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本实用新型公开了一种电子信息科学元件与技术测试平台：包括测试平台框架，测试平台框架的上部设有测试平台桌面，测试平台框架的上部后侧设有测试仪器放置架；测试平台框架的上部的下侧设有梯形框架；梯形框架由后部侧挡板以及梯形侧板；两个梯形侧板的较长的...
该专利属于北京工业大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京工业大学授权不得商用。

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