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本实用新型公开了一种半导体分立器件的耐压测试装置，包括测试箱和测试机构，所述测试箱的内壁上固定连接有固定柱，所述固定柱内开设有空腔，所述固定柱的内壁中转动连接有转动杆，所述转动杆的右端固定连接有第一斜齿轮，所述第一斜齿轮上啮合连接有第二斜齿...
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