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本发明涉及一种将管帽同轴度水平um级别偏移转换为高度mm的测量方法，属于半导体激光器检验领域，包括测距仪、模条、移动支架，将封帽完成的激光器放入模条上，固定完成后将模条放置在移动支架上，由移动支架带动模条等距移动；测距仪垂直在激光器管帽的上...
该专利属于潍坊华光光电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过潍坊华光光电子有限公司授权不得商用。

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