温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

接收由质谱仪产生的针对一系列样品的强度关于时间值的描记。还接收由进样系统产生的与一系列样品对应的一系列喷射时间。使用从喷射到质量分析的已知延迟时间来计算对应于一系列喷射时间的一系列预期峰时间。使用一系列预期峰时间来识别描记的至少一个孤立峰。...
该专利属于DH科技发展私人贸易有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过DH科技发展私人贸易有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。