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本公开涉及新一代信息技术领域，提供了一种芯片可测性设计的测试方法及测试平台，所述方法应用于测试平台，所述方法包括：接收第一测试向量及辅助信息，辅助信息包括控制测试平台对被测芯片进行测试的指导信息；测试被测芯片，包括：基于辅助信息，控制测试用...
该专利属于摩尔线程智能科技（北京）有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过摩尔线程智能科技（北京）有限责任公司授权不得商用。

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