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本发明涉及一种内存条测试方法、系统、装置、设备及存储介质，涉及内存测试领域，该方法包括：启动测试系统，从所述服务器端加载预设的第一操作系统，运行所述第一操作系统的测试程序测试所述内存条；若所述第一操作系统的测试程序的测试结果为合格，控制所述...
该专利属于深圳市金泰克半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市金泰克半导体有限公司授权不得商用。

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