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提供一种计算机实施方法、检测系统及非暂时性存储媒体，用于使用机器学习自动产生缺陷分类模型，所述缺陷分类模型用于检测半导体和/或印刷电路板(PCB)部件。缺陷分类模型由经训练的神经网络二元分类器与优化器的第一组合以及经训练的神经网络多类别分类...
该专利属于日本电产理德检验加拿大股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过日本电产理德检验加拿大股份有限公司授权不得商用。

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