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一种旋转式SMT首件检测系统的校准方法技术方案
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下载一种旋转式SMT首件检测系统的校准方法的技术资料
文档序号:36445135
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本发明公开了一种旋转式SMT首件检测系统的校准方法,包括以下步骤:步骤1:先将SMT首件放置在控制箱的顶部,然后通过锁紧块固定住SMT首件;步骤2:再启动伸缩气缸带动支撑板上下移动,调节支撑板的高度,然后启动第一电机带动第二螺杆转动,调节两...
该专利属于西迪电子(深圳)有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过西迪电子(深圳)有限公司授权不得商用。
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