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本发明公开了一种基于散斑域高斯分布拟合的通道划痕深度和宽度测定方法,其通过探查通道的导光束和相机配合相干激光照明,采集通道内原始激光散斑图像,通过划取图像中垂直划痕的直线进行散斑域高斯分布拟合,来测定目标划痕的深度和宽度。本发明提供的方案能...该专利属于上海施美德源高新科技有限责任公司所有,仅供学习研究参考,未经过上海施美德源高新科技有限责任公司授权不得商用。
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本发明公开了一种基于散斑域高斯分布拟合的通道划痕深度和宽度测定方法,其通过探查通道的导光束和相机配合相干激光照明,采集通道内原始激光散斑图像,通过划取图像中垂直划痕的直线进行散斑域高斯分布拟合,来测定目标划痕的深度和宽度。本发明提供的方案能...