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本发明涉及一种基于图像多特征匹配的半导体器件引线键合方法，属于图像识别技术领域，解决引线键合中半导体器件快速匹配的问题，包括以下步骤：键合器件图像多特征模板库的建立
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该专利属于西北电子装备技术研究所（中国电子科技集团公司第二研究所）所有，仅供学习研究参考，未经过西北电子装备技术研究所（中国电子科技集团公司第二研究所）授权不得商用。

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