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本发明公开了一种光学元件控时磨削面形测量系统，包括床身，床身上设有沿X轴做直线运动的工件安装座和沿Y轴和Z轴运动的控时磨削加工平台，控时磨削加工平台上设有控时磨削加工装置、用于测量控时磨削加工平台在Z轴方向位移变化量δL2(x,y)的第一测...
该专利属于中国人民解放军国防科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过中国人民解放军国防科技大学授权不得商用。

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