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本发明涉及的横向二维发射度探测机构，包括安装主体、前狭缝取样机构、后狭缝筛选机构、电偏转板和法拉第筒。所述前狭缝取样机构和后狭缝筛选机构分别固定安装在左侧安装板和右侧安装板上，所述前狭缝取样机构包括前狭缝上片和前狭缝下片，所述前狭缝上片和前...
该专利属于中国科学院近代物理研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院近代物理研究所授权不得商用。

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