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本申请提出一种获取触摸轨迹凹凸特征的方法及其装置，属于触控技术领域。其中，该获取触摸轨迹凹凸特征的方法包括：在对触摸轨迹跟踪的过程中，获取上一轨迹区间的触摸点和当前轨迹区间的触摸点；根据上一轨迹区间的触摸点和当前轨迹区间的触摸点，对当前轨迹...
该专利属于北京奕斯伟计算技术股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京奕斯伟计算技术股份有限公司授权不得商用。

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