温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本公开涉及材料评价装置，高效地取得材料的物性值。在材料评价装置1的存储部(10)中存储有N个滞回曲线(40)，该N个滞回曲线(40)表示材料(30)的某坐标(a)处的N次(N为2以上的整数)的各次的物理量(Q)相对于物理量(P)的变化。例如...
该专利属于富士通株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过富士通株式会社授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。