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本实用新型公开一种人脸识别的电子产品的综合性能检测的自动测试设备,包括机架,机架的上表面的中部设有一封闭的暗箱,暗箱的顶部设有探针测试针床,探针测试针床设有可供产品嵌入的第一测试工位和第二测试工位,探针测试针床的左侧和右侧分别设有一除静电风...该专利属于苏州伦达尔智能工业有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过苏州伦达尔智能工业有限公司授权不得商用。
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本实用新型公开一种人脸识别的电子产品的综合性能检测的自动测试设备,包括机架,机架的上表面的中部设有一封闭的暗箱,暗箱的顶部设有探针测试针床,探针测试针床设有可供产品嵌入的第一测试工位和第二测试工位,探针测试针床的左侧和右侧分别设有一除静电风...