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本申请提供了一种测试系统，包括：一个或多个测试工站，所述测试工站上设置有短路测试装置和老化测试装置，分别用于实现待测变频器的短路测试和老化测试；上位机，与所述一个或多个测试工站通信连接，获取所述测试工站上的待测变频器的功率信息；和一个或多个...
该专利属于浙江海利普电子科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过浙江海利普电子科技有限公司授权不得商用。

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