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本文公开了一种检测测试样本中存在或不存在分析物的方法，该方法基于使用用于分析物的运动抵抗颗粒(例如包被有第一感测元件的非磁性颗粒)以及使用用于分析物的力驱动颗粒(例如包被有第二感测元件的超顺磁性颗粒)以形成运动抵抗颗粒
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该专利属于新加坡国立大学所有，仅供学习研究参考，未经过新加坡国立大学授权不得商用。

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