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本公开涉及一种芯片、芯片的测试监控方法及计算机可读存储介质。该芯片包括存储器、内部总线以及中断处理监控装置，存储器通过内部总线与中断处理监控装置耦合，存储器中存储有与多个中断服务程序一一对应的多个中断入口地址，中断处理监控装置包括：监控处理...
该专利属于比亚迪半导体股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过比亚迪半导体股份有限公司授权不得商用。

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