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本发明公开了一种超微区域光谱测试系统及方法，样品的透射光束依次经过扩束透镜扩束、准直透镜准直后照射于若干个阵列滤光片，探测器测得滤光区块透射光束的强度值并一次性输入计算机，经光谱反演网络计算得到待测光束的光谱分布和样品的光谱成像，通过图像识...
该专利属于国科大杭州高等研究院所有，仅供学习研究参考，未经过国科大杭州高等研究院授权不得商用。

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