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本发明内场有源干扰散射特性测量装置，包括暗室，暗室内壁上铺有吸波材料，暗室内设置有转台、信号发射天线和干扰信号发射天线，转台周围设置有多探头阵列接收天线，信号发射天线依次连接有功率放大器a、矢量网络分析仪和一体化电脑，功率放大器a与多探头阵...
该专利属于西安电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过西安电子科技大学授权不得商用。

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