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质量评估模型训练方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸
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文档序号:35865410
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本申请提供一种质量评估模型训练方法、装置、电子设备及存储介质,该方法包括:使用通用框架中设置的数据标注函数对多个样本图像进行数据标注,获得多个样本标签,样本标签是样本图像对应的图像质量类别;以多个样本图像为训练数据,以多个样本标签为训练标签...
该专利属于电子科技大学中山学院所有,仅供学习研究参考,未经过电子科技大学中山学院授权不得商用。
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