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本发明属于芯片缺陷检测技术领域，具体涉及一种基于TensorRT加速推理的芯片缺陷检测方法及系统；该方法包括：获取芯片图像数据集并对其进行预处理；使用芯片图像数据集对改进YOLOv5模型进行训练，得到多个目标检测模型；将所有目标检测模型转换...
该专利属于重庆邮电大学所有，仅供学习研究参考，未经过重庆邮电大学授权不得商用。

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