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本实用新型属于集成电路技术领域，公开了一种集成电路测试座，其技术要点是：包括测试座，所述测试座表面铰动连接有盖板，所述盖板底壁固定安装有压块，所述测试座表面开设有放置槽，所述测试座内开设有多组放置腔，所述放置腔内设置有多组测试探头，所述放置...
该专利属于成都泰码思测控技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过成都泰码思测控技术有限公司授权不得商用。

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