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本发明的目的在于提供一种适用于曲面材料的复介电常数计算方法，属于微波、毫米波材料电磁参数测试计算技术领域。该计算方法根据射线综合的思路，将待测曲面材料表面的入射电磁波进行射线分解，对每条分解后的射线传播建立楔形计算模型，从而计算得到放置待测...
该专利属于电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过电子科技大学授权不得商用。

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