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用于光子计数X射线检测器的总超阈值时间(TTOT)处理制造技术
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下载用于光子计数X射线检测器的总超阈值时间(TTOT)处理的技术资料
文档序号:35808294
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本发明提供了一种电路(502;503;504),该电路被配置用于与具有多个能量阈值的多仓光子计数X射线检测器(20)一起工作,其中所述电路(502;503;504)被配置为获得或生成对应于若干个不同能量阈值的若干个总超阈值时间(TTOT)信...
该专利属于棱镜传感器公司所有,仅供学习研究参考,未经过棱镜传感器公司授权不得商用。
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