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本实用新型公开了一种用于X光机测量晶片晶向的装置，涉及晶片检测技术领域，包括：基座，基座的边缘设置有刻度线；转动件，转动件的一端与基座转动连接，转动件上设置有用于指示刻度线的指针；背板，背板固定在转动件远离基座的一端，背板上具有X光照射口，...
该专利属于保定通美晶体制造有限责任公司所有，仅供学习研究参考，未经过保定通美晶体制造有限责任公司授权不得商用。

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