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本发明公开了一种基于光学偏折的显微大动态范围微透镜测量方法，涉及测量技术领域，包括高亮投影屏、待测大动态范围微透镜、显微物镜、成像透镜、CCD探测器及处理器，以所述高亮投影屏、显微物镜、成像透镜和CCD探测器构建同轴光学系统，通过三坐标机对...
该专利属于中国计量大学所有，仅供学习研究参考，未经过中国计量大学授权不得商用。

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