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本公开总体上涉及用于成像系统的成像链。更具体地，本公开涉及被配置为限制光学像差的成像系统。此外，本公开涉及限制被配置用于对样品进行成像但更具体地用于检测多个检测基团内的各个检测基团的成像系统中的光学像差的方法。的方法。的方法。
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该专利属于瑞尔赛特股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过瑞尔赛特股份有限公司授权不得商用。

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