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本申请公开了一种显示面板的缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质，其中，获取待检测显示面板的面板图像，并通过缺陷定位模型对面板图像进行缺陷定位，相应裁剪出面板图像中存在缺陷的缺陷区域，再通过缺陷分类模型对缺陷区域进行缺陷分类，确定缺陷区域的...
该专利属于武汉TCL集团工业研究院有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过武汉TCL集团工业研究院有限公司授权不得商用。

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