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一种用于偏折测量的超景深镜头及其偏折测量系统与测量方法，该检测系统由液晶显示屏、待测元件、超景深镜头及CCD相机组成。液晶显示屏显示编码条纹，超景深镜头及CCD相机接收由待测元件反射的带有其面形信息的变形条纹，获得面形梯度信息，进而得到待测...
该专利属于中国科学院上海光学精密机械研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院上海光学精密机械研究所授权不得商用。

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