下载用于测量的基于短模式波形数据库的机器学习的技术资料

文档序号:35680266

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一种测试和测量系统包括被配置为从被测设备接收信号的测试和测量设备以及一个或多个处理器,该处理器被配置为执行使一个或多个处理器执行以下操作的代码:从所述信号生成波形;对所述波形应用均衡器;接收输入,所述输入识别要对所述波形进行的一个或多个测量...
该专利属于特克特朗尼克公司所有,仅供学习研究参考,未经过特克特朗尼克公司授权不得商用。

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