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一种嵌入式分布系统的性能测量数据采集方法，其特征在于，所述方法包括以下处理步骤：　　　　第一步：主从处理机初始化；主处理机开设统一缓存区，并开始主处理机上的测量计数，直接写统一缓存；从处理机增加测量数据上报进程，并开始从处理机上的测量计数，...
该专利属于中兴通讯股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中兴通讯股份有限公司授权不得商用。

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