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本发明涉及一种晶片圆心校正方法，属于图像数据识别技术领域，该方法步骤包括：获取待测晶片图像中多段圆弧边缘；根据每段圆弧边缘中每个边缘像素点的邻域链码，选取出部分误差像素点；利用每个部分误差像素点所在圆弧边缘的误差程度、所在圆弧边缘的前进角度...
该专利属于南通迪博西电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过南通迪博西电子有限公司授权不得商用。

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