温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明公开一种基于ADMM网络的反射式荧光分子断层成像方法及系统，涉及分子影像技术领域，方法包括：根据待重建反射荧光分布，利用解耦合荧光蒙特卡罗模型构建正向矩阵和训练数据集；利用正向矩阵构建待优化目标函数；对待优化目标函数进行L1正则化处理...
该专利属于华中科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过华中科技大学授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。