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本发明公开了一种单色光的干涉测量相位计算方法。所述移相干涉采用改变光程差获得不同相位差下的干涉图，利用移相算法，对物体的表面相位进行测量，所述单色光为单一波长的光，所述测量方法是采用时空移相与延拓技术结合的思想，对数帧移相载频干涉图进行延拓...
该专利属于苏州科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过苏州科技大学授权不得商用。

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