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本发明公开了一种快速评估PCB间耦合参数的方法，通过获取需要评估耦合参数的两个PCB的近场磁场信息，建立两个PCB的磁偶极子等效模型，确认需要评估耦合参数的两个PCB所处相对位置信息，放入辐射源PCB与受扰源PCB等效模型，使用假想惠更斯面...
该专利属于电子科技大学所有，仅供学习研究参考，未经过电子科技大学授权不得商用。

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