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本发明涉及量子电容测量系统及测量方法。本申请量子电容测量系统包括：复合电桥电路，电性连接于待测量子电容，用于承载所述待测量子电容；对接电路，与所述复合电桥电路电性连接，将交流电输入所述复合电桥电路并将激励信号耦合至所述复合电桥电路；模拟锁相...
该专利属于北京大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京大学授权不得商用。

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