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本发明公开了一种粉末多晶X射线衍射仪检测二氧化硅中α态晶体二氧化硅含量的方法，其包括如下具体步骤：规定了多晶X射线衍射仪参数设定参考值;把样品用球磨机粉碎研磨制成粉末状；取制备好的α态晶体二氧化硅微粉与无定型二氧化硅微粉按质量比混合，用阶梯...该专利属于国家硅材料深加工产品质量监督检验中心东海研究院所有，仅供学习研究参考，未经过国家硅材料深加工产品质量监督检验中心东海研究院授权不得商用。