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本发明公开了一种用于测试对称密码组件安全性的系统及方法，所述系统包括：S盒测试模块，用于测试所述对称密码组件S盒的密码性能，包括差分均匀度子模块、非线性度子模块、不动点个数子模块、代数次数与项数子模块、代数免疫度子模块、雪崩子模块、扩散子模...
该专利属于中电科（北京）信息测评认证有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中电科（北京）信息测评认证有限公司授权不得商用。

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