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本发明提供一种颗粒测定装置及颗粒测定方法，利用依次照射电流的激光的激光电流扫描而通过高的准确率而按尺寸范围测定颗粒数量。首先，分别与多个相互不同的颗粒尺寸对应，在一定时间内将能够测定相应尺寸以上的颗粒的最小电流的激光照射至颗粒测定空间，检测...
该专利属于韩国标准科学研究院所有，仅供学习研究参考，未经过韩国标准科学研究院授权不得商用。

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