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本发明涉及一种电子部件测试用分选机。根据本发明的电子部件测试用分选机具有如下结构：如果移动手以能够搁置电子部件的搁置器为介质而将电子部件移动至搁置器，则测试手将电子部件从搁置器移动至测试仪侧后，使电子部件与测试仪之间电连接。为此，在用于供应...
该专利属于泰克元有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过泰克元有限公司授权不得商用。

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