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本申请公开了一种中子谱仪被测样品测点排序方法和系统，该方法包括：在基坐标系中表示出被测点坐标、被测量矢量、衍射点坐标和散射矢量；以样品台最小运动时间作为目标函数；将每种测点排序方案作为遗传算法中的一条染色体；根据预先配置的迭代次数，对染色体...
该专利属于中南大学所有，仅供学习研究参考，未经过中南大学授权不得商用。

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