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本发明公开了一种半导体制造工业的全视角视觉检测方法及装置，包括：获取半导体产品的高维图像数据集；对高维图像数据集进行降维处理生成低维图像数据集；对低维图像数据集进行稀疏主成分分析生成主成分图像数据集；将主成分图像数据集与预设的目标数据集进行...
该专利属于陈禹卓所有，仅供学习研究参考，未经过陈禹卓授权不得商用。

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